Jornada LES: Métodos de valoración de patentes: Aplicación práctica de los métodos más utilizados. Nuevas perspectivas y caso práctico de estudio
Métodos de valoración de patentes: Aplicación práctica de los métodos más utilizados.
Viernes, 23 de Enero de 2015
Lugar: CSIC – Serrano n.º 117, Edificio Pinar 25
AFORO COMPLETADO
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